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在發(fā)展中求生存,不斷完善,以良好信譽和科學(xué)的管理促進(jìn)企業(yè)迅速發(fā)展首頁-譜標(biāo)服務(wù)-運用8900 ICP-MS/MS進(jìn)行地球化學(xué)研究的多方面分析解決方案
全新的8900ICP-MS/MS是ICP-MS的一個新類別,涵蓋了從常規(guī)商業(yè)分析到科學(xué)研究和高性能材料分析的應(yīng)用領(lǐng)域,可用于地球化學(xué)和其他嚴(yán)苛應(yīng)用,并為推進(jìn)并定義前沿研究應(yīng)用的全新性能標(biāo)準(zhǔn)創(chuàng)造了契機(jī)。
有關(guān)地球化學(xué)的解決方案:
1、鉛同位素分析:消除204Hg同質(zhì)異位素對204Pb的干擾
使用ICP-MS/MS在MS/MS模式下可消除204Hg同質(zhì)異位素對204Pb的干擾,8800的化學(xué)分離為消除棘手的干擾問題提供了巨大的潛力,無需進(jìn)行繁瑣的樣品前處理。在無法進(jìn)行樣品前處理的情況下(例如通過激光剝蝕ICP-MS進(jìn)行直接分析)化學(xué)分離與MS/MS技術(shù)聯(lián)用能夠可靠地去除干擾的獲得鉛同位素分析數(shù)據(jù),無需復(fù)雜且通常不可靠的數(shù)字校正。
2、消除176Yb和176Lu對176Hf的干擾以實現(xiàn)準(zhǔn)確的176Hf/177Hf同位素比分析
使用ICP-MS/MS在MS/MS模式下消除176Yb和176Lu對176Hf的干擾以實現(xiàn)準(zhǔn)確的176Hf/177Hf同位素比分析。質(zhì)量轉(zhuǎn)移模式與原位質(zhì)量模式相結(jié)合,既解決了商業(yè)化高分辨率SF-ICP-MS在最高分辨率下仍無法解決的同質(zhì)異位素干擾問題,又避免了由樣品基質(zhì)、其他共存元素以及同位素形成意料之外的新干擾物的產(chǎn)生,從而在各種復(fù)雜的合成樣品基質(zhì)中實現(xiàn)準(zhǔn)確的Hf同位素分析。
3、對礦泉水進(jìn)行硫同位素分餾分析
Agilent 8900高級應(yīng)用配置ICP-MS/MS非常適合于34S/32S同位素比分析,其能夠為自然系統(tǒng)中的樣品表征或監(jiān)測人為影響提供有價值的信息。通過在MS/MS模式下操作8900ICP-MS/MS并以o2作為反應(yīng)池氣體,成功避免了由于o2+與32S+和34S+重疊所引起的質(zhì)譜干擾問題。
4、消除氫化物離子(MH+)對稀土元素的干擾
安捷倫ICP-MS/MS以MS/MS質(zhì)量轉(zhuǎn)移模式運行,非目標(biāo)質(zhì)量數(shù)在進(jìn)入反應(yīng)池之前已被去除,能夠?qū)崿F(xiàn)ICP-QMS,甚至扇形磁場ICP-MS也不可能達(dá)到的去除干擾效果。采用該科技,實現(xiàn)了50ppm Ba基質(zhì)中的La、50 ppm La基質(zhì)中的Ce和50 ppm Gd基質(zhì)中的Tb的痕量(ppt)測定。
5、對高純度Nd2o3中的痕量稀土元素進(jìn)行常規(guī)測定
采用Agilent 8800串聯(lián)四極桿ICP-MS(ICP-MS/MS)直接分析高純度Nd2O3樣品中的痕量REE,利用多種ICP-MS/MS模式,可實現(xiàn)對500 pmm Nd2O3樣品中所有痕量REE測定的良好長期(2小時)穩(wěn)定性,證明了該分析方法用于直接分析高純度Nd2O3的有效性。
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